在集成電路的RF射頻屏蔽高低溫測(cè)試。先進(jìn)的TS-780H高低溫?zé)崃鲀x系統(tǒng)現(xiàn)在可以與射頻行業(yè)各類箱室進(jìn)行配對(duì)，可以輕松地在受控的射頻環(huán)境中進(jìn)行各種溫度下的IC測(cè)試。在極端溫度下的射頻測(cè)試不僅對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)，而且對(duì)整個(gè)電子行業(yè)來(lái)說(shuō)都是一個(gè)挑戰(zhàn)。 ThermoTST TS-780是一臺(tái)精密的高低溫沖擊熱流儀，具有更廣泛的溫度范圍-80℃到+225℃（箱室內(nèi)溫度需根據(jù)容積/負(fù)載核算），DUT的功能可以確保箱體的溫度，提供溫度穩(wěn)定性<±1°c；先進(jìn)的溫度轉(zhuǎn)換能力，溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換小于90秒（容積不同，轉(zhuǎn)換能力不同），熱流儀支持自動(dòng)化編程使用。當(dāng)flex軟管和d箱室配對(duì)時(shí)，head在一個(gè)rf射頻隔離的環(huán)境中，因?yàn)殪`活的連接性，可以設(shè)計(jì)直接接觸到測(cè)試樣品。

技術(shù)規(guī)格