隨著集成電路制造技術(shù)的進(jìn)步，人們已經(jīng)能制造出電路結(jié)構(gòu)相當(dāng)復(fù)雜、集成度很高、功能各異的集成電路。但是這些高集成度，多功能的集成塊僅是通過數(shù)目有限的引腳完成和外部電路的連接，這就給判定集成電路的好壞帶來不少困難。

  什么是測試？

         任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計的單片模塊，集成電路的測試就是運(yùn)用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的工程的話，集成電路的測試也就不需要了?？墒怯捎趯嶋H的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的工程都會產(chǎn)生不良的個體,因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。

集成電路測試原理。

         集成電路測試是指在研制、生產(chǎn)和使用IC時，對其主要電學(xué)特性及邏輯功能進(jìn)行的測量和檢驗。測試的目的是保證所用IC產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。如在IC的研制開發(fā)過程中，為了驗證邏輯設(shè)計、電路設(shè)計、版圖設(shè)計和工藝設(shè)計是否正確，是否達(dá)到了預(yù)定的要求，就必須反復(fù)地進(jìn)行測試一修改一再測試；在IC的生產(chǎn)過程中，由于IC制造工序復(fù)雜，生產(chǎn)的IC不可能完全沒有故障，就需要通過測試進(jìn)行挑選和分級；在IC投入使用時,可以通過測試來剔除那些失效的芯片，從而保證產(chǎn)品的可靠性。

         就模擬電路的測試而言，一般分為兩類測試：第一類是直流特性測試，主要包括端子電壓特性、端子電流特性等;第二類是交流特性測試,這些交流特性和該電路完成的特定功能密切有關(guān)，比如一塊音頻功放電路，其增益指標(biāo)、輸出功率、失真指標(biāo)等都是很重要的參數(shù);色處理電路中色解碼部分的色差信號輸出，色相位等參數(shù)也是很重要的交流測試項目。

         直流參數(shù)側(cè)量以電壓或電流的形式來測量IC的電氣參數(shù)。其主要方法是施加電壓測量結(jié)果電流(簡稱加壓測流)與施加電流測量結(jié)果電壓(簡稱加流測壓)。所施加的電壓、電流均應(yīng)有一定的動態(tài)范圍，以滿足不同的測量要求。測量主要在被測器件輸入、輸出和電源引腳上進(jìn)行，用以確定被測器件輸出管腳直流驅(qū)動特性、輸入管腳的直流負(fù)載特性和電源特性。

         交流參數(shù)測試測量器件晶體管轉(zhuǎn)換狀態(tài)時的時序關(guān)系。交流測試的目的是保證器件在正確的時間發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換。輸入端輸入指定的輸入邊沿，特定時間后在輸出端檢測預(yù)期的狀態(tài)轉(zhuǎn)換。常用的交流測試有傳輸延遲測試，建立和保持時間間測試，以及頻率測試等。

         數(shù)字電路主要測試項：VDD Min/Max(待測器件電源電壓)、VILVIH(輸入電壓)、VOL/VOH(輸出電壓)、IOL/lOH(輸出電流負(fù)載)、VREF (IOL/IOH轉(zhuǎn)換電平)、測試頻率(測試使用的周期)、輸入信號時序(時鐘/建立時間/保持時間/控制)、輸入信號波形格式、輸出時序(在周期內(nèi)何時對輸出進(jìn)行采樣)、向量順序(向量文件內(nèi)的start/stop位置)

         如從生產(chǎn)流程方面講，一般分為芯片測試、成品測試和檢驗測試，除非特別需要,芯片測試一般只進(jìn)行直流測試,而成品測試既可以有交流測試，也可以有直流測試,在更多的情況下，這兩種測試都有。在一條量產(chǎn)的生產(chǎn)線上，檢驗測試尤為重要，它一般進(jìn)行和成品測試一樣的內(nèi)容,它是代表用戶對即將入庫的成品進(jìn)行檢驗，體現(xiàn)了對實物質(zhì)量以及制造部門工作質(zhì)量的監(jiān)督。

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