TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶體管)的可靠性評測是一個綜合性的評估過程,是確保TFT液晶屏等電子產(chǎn)品質(zhì)量和性能穩(wěn)定的重要環(huán)節(jié)。TFT的可靠性評測項目眾多,評測結(jié)果將直接影響TFT液晶屏的質(zhì)量和性能評估。通過評測,可以篩選出性能穩(wěn)定、質(zhì)量可靠的TFT液晶屏,為電子產(chǎn)品提供優(yōu)質(zhì)的顯示解決方案。
TFT類型 |
測試項目 |
取值說明 |
LTPS PMOS TFT DTFT/STFT |
NBTS |
•T=70℃,Vg=-30V,Vd=0V,Vs=0V •每隔一段時間提取一次IDVG曲線,一般選取0、10、100、1000、1800、3600、7200s時間點 •計算ΔVth@7200s-0s |
PBTS |
•T=70℃,Vg=30V,Vd=0V,Vs=0V •每隔一段時間提取一次IDVG曲線,一般選取0、10、100、1000、1800、3600、7200s時間點 •計算ΔVth@7200s-0s |
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HCI |
•T=25℃,Vg=-15V,Vd=-30V,Vs=0V •每隔一段時間提取一次IDVG曲線,一般選取0、10、100、1000、1800、3600、7200s時間點 •計算ΔVth@7200s-0s |
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HYS |
•T=25℃,Vd=-5.1V,Vs=0V •Vg掃描從15→-15V,再從-15→15V •計算兩條IDVG曲線的ΔVth |
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CBTS |
•T=70℃,Vg=L255灰階電壓,Vd=L255灰階電壓 •每隔一段時間提取一次IDVG曲線,一般選取0、10、100、1000、1800、3600s時間點 •計算ΔVth@3600s-0s |
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光照 |
•對樣品進行一定強度光照,測試光照前后IDVG曲線,計算ΔVth和ΔSS | |
加熱 |
•對樣品進行加熱(25→40→60→80℃),測試每個溫度下的IDVG曲線,計算ΔVth和ΔSS |
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