可靠性試驗(yàn)是指通過試驗(yàn)測定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。研究在有限的樣本、時(shí)間和使用費(fèi)用下，找出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)?？煽啃栽囼?yàn)是為了解、評(píng)價(jià)、分析和提高產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的各種試驗(yàn)的總稱。

可靠性試驗(yàn)方法：

     1.定時(shí)截尾試驗(yàn)：指事先規(guī)定一個(gè)試驗(yàn)時(shí)間，當(dāng)試驗(yàn)達(dá)到所規(guī)定的時(shí)間就停止。樣本中出現(xiàn)故障的樣品數(shù)是隨機(jī)的，事先無法知道。

     2.序貫試驗(yàn)：又稱序貫分析，對(duì)現(xiàn)有樣本一個(gè)接著一個(gè)或一對(duì)接著一對(duì)地展開試驗(yàn)，循序而連貫地進(jìn)行，直至出現(xiàn)規(guī)定的結(jié)果便適可而止結(jié)束試驗(yàn)。 其特點(diǎn)是這種試驗(yàn)既可避免盲目加大試驗(yàn)樣本數(shù)而造成浪費(fèi)，又不致于因試驗(yàn)樣本個(gè)數(shù)太少而得不到結(jié)論-節(jié)約樣本（比一般試驗(yàn)方法節(jié)約樣本30~50%）。常用的序貫試驗(yàn)法有對(duì)分法、0.618法、分?jǐn)?shù)法、拋物線法、爬山法和分批試驗(yàn)法等。

     3.可靠性增長試驗(yàn)：通過對(duì)產(chǎn)品施加真實(shí)的或模擬的綜合環(huán)境應(yīng)力，暴露產(chǎn)品的潛在缺陷并采取糾正措施，使產(chǎn)品的可靠性達(dá)到預(yù)定要求的一種試驗(yàn)，它是一個(gè)有計(jì)劃的試驗(yàn)-分析-改進(jìn)（TAAF）的過程。 值得注意的是可靠性增長活動(dòng)不是針對(duì)設(shè)計(jì)低劣的產(chǎn)品的，而是針對(duì)經(jīng)過認(rèn)真設(shè)計(jì)仍然由于某些技術(shù)原因達(dá)不到要求的產(chǎn)品。 切記：可靠性增長的核心是消除影響設(shè)計(jì)缺陷。但是，把可靠性水平寄托在增長活動(dòng)上的態(tài)度是錯(cuò)誤的。

     4. 高加速壽命試驗(yàn)：簡稱HALT試驗(yàn)，是由美國所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的定性試驗(yàn)方法，利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足。 HALT試驗(yàn)箱可提供-100℃～＋200℃的溫度區(qū)間，溫變速率可達(dá)到70℃～100℃/min。同時(shí)，提供六軸向隨機(jī)振動(dòng)（振動(dòng)強(qiáng)度0～75Grms，頻率范圍1Hz～1MHz。），在低頻范圍內(nèi)傳遞較高的振動(dòng)能量，激發(fā)大型產(chǎn)品潛在的缺陷。 HALT優(yōu)勢(shì)：快速檢測缺陷，消除故障機(jī)會(huì)；評(píng)估失效率和MTBF，驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)。

     中冷低溫研發(fā)的HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等)，大大縮短可靠性評(píng)估的測試周期，節(jié)約時(shí)間成本。HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測試的快速有效替代方案。