絕緣電阻劣化(離子遷移CAF) 評估系統(tǒng)

產品詳情

ECM-HAST

絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗,可進行BHAST試驗。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

特點:

高機能:采用高端驅動計測,測試時焊接工序大幅減少

軟件設計簡單明了,直觀易操作

遠程監(jiān)控功能,可監(jiān)控試驗過程

便利性高:構造裝著脫落式、易進行保養(yǎng)交換??赏瑫r試驗停止等聯(lián)動裝置功能,系統(tǒng)構成靈活

測試自檢功能:點檢、校正方便

設計精巧,不受場所限制,易移動

可靠性高:配有CF卡,以防設備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐,保證試驗的安全繼續(xù)進行。

 

應用:

PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等,GBA、DSP等,IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。

 

技術規(guī)格:

產品型號 500V* 1000V
通道數(shù) 32通道/64通(可選)
工作時間 1~9999小時
偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC

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