ThermoTST HTS200
ThermoTST HTS200高溫沖擊氣流儀用于電子元件或非其他模塊及器件的快速溫度循環(huán)沖擊,進(jìn)行溫度特性和器件表征測試

產(chǎn)品詳情

ThermoTST HTS200高溫沖擊氣流儀用于電子元件或非其他模塊及器件的快速溫度循環(huán)沖擊,進(jìn)行溫度特性和器件表征測試; HTS200的有效溫度范圍常溫(進(jìn)氣溫 度)至+ 200°C。經(jīng)長期的多工況驗證,滿足各類生產(chǎn)環(huán)境和工程環(huán)境的要求。

 

特點(diǎn)

有效溫度范圍,常溫(進(jìn)氣溫度)至+225℃

觸摸屏操作,人機(jī)交互界面

快速DUT溫度穩(wěn)定時間

溫控精度±1℃,顯示精度±0.1℃

緊湊的設(shè)計,很大限度地減少占地面積的要求

靜音設(shè)計,滿足工作環(huán)境的舒適度。

 

應(yīng)用

產(chǎn)品的特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗,如:

芯片、微電子器件、集成電路

(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)

閃存Flash、UFS、eMMC

PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件

光通訊(如:收發(fā)器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)

其它電子行業(yè)、航空航天新材料、實驗室研究

 

測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL體系測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足國內(nèi)軍用元件GJB體系測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足JEDEC測試要求

 

技術(shù)規(guī)格

有效溫度范圍 常溫(進(jìn)氣溫度) + 225 ºC
典型溫度轉(zhuǎn)換率 常溫至 + 125 ºC約10秒
溫控精度 ± 1 ºC
出氣流量
3 ~ 10SCFM1.4L/s ~ 4.7L/s